Prüfstiftkonfiguration für eine Prüfvorrichtung zum Prüfen von Prüflingen

Prüfstift für eine Prüfvorrichtung zum elektrischen Kontaktieren eines Prüflings, wobei der Prüfstift umfasst: eine elektrisch leitfähige Basisstruktur zum elektrischen Leiten eines Prüfsignals zwischen dem Prüfling und der Prüfvorrichtung und einen austauschbaren elektrisch leitenden Stiftspitzenkö...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Sugianto, Yusman, Gan, Swee Lee, Hudda, Murad, Tan, Wee Kuan, Hiew, Fu San, Yussuff, Arieff Ridzwan, Lee, Chow York, Tan, Siao Kiat, Ge, Dandong, Wang, Xiaojun, Tay, Chyeo Yong
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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