Prüfstiftkonfiguration für eine Prüfvorrichtung zum Prüfen von Prüflingen

Prüfstift für eine Prüfvorrichtung zum elektrischen Kontaktieren eines Prüflings, wobei der Prüfstift umfasst: eine elektrisch leitfähige Basisstruktur zum elektrischen Leiten eines Prüfsignals zwischen dem Prüfling und der Prüfvorrichtung und einen austauschbaren elektrisch leitenden Stiftspitzenkörper, der dafür ausgelegt ist, den Prüfling direkt zu kontaktieren und austauschbar mit der Basisstruktur zusammengesetzt zu werden. A test pin for a test device for electrically contacting a device under test to be tested, wherein the test pin comprises an electrically conductive base structure for electrically conducting a test signal between the device under test and the test device, and an exchangeable electrically conductive pin tip body configured to directly contact the device under test and to be exchangeably assembled with the base structure.