Komponentenmesssystem mit Wellenlängenfilterung

Ein System (10) zum Messen eines Merkmals einer Komponente (12) ist offenbart. Das System (10) kann einen Messfühler (16) mit einer Spitze und einem Messelement (21), das dazu ausgebildet ist, Signale zu erzeugen, die eine Entfernung der Spitze zu dem Merkmal angeben, aufweisen. Das System (10) kann...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Grant, Marion Billingsley Jr, Marsh, Richard Griffith
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Ein System (10) zum Messen eines Merkmals einer Komponente (12) ist offenbart. Das System (10) kann einen Messfühler (16) mit einer Spitze und einem Messelement (21), das dazu ausgebildet ist, Signale zu erzeugen, die eine Entfernung der Spitze zu dem Merkmal angeben, aufweisen. Das System (10) kann auch einen Aktor (18), der zum Bewegen des Messfühlers relativ zu der Komponente (12) ausgebildet ist, und eine Steuerung (20), die mit dem Messelement (21) und dem Aktor (18) verbunden ist, aufweisen. Die Steuerung (20) kann dazu ausgebildet sein, einen Abweichungsbericht basierend auf den Signalen zu erstellen und Informationen von dem Abweichungsbericht nach einer Wellenlänge in mehrere Abweichungskategorien nach Spezifikationsanforderungen der Komponente (12) zu filtern. Die mehreren Abweichungskategorien können mindestens eine Welligkeitskategorie aufweisen. Die Steuerung (20) kann auch dazu ausgebildet sein, eine Veränderung eines zum Herstellen der Komponente (12) verwendeten Verfahrens basierend auf den Informationen von dem Abweichungsbericht, die in die Welligkeitskategorie gefiltert sind, zu bestimmen.