Verfahren und Anlage zum Ermitteln der Defektfläche mindestens einer Fehlstelle auf mindestens einer Funktionsoberfläche eines Bauteils oder Prüfkörpers

Verfahren zum Ermitteln der Defektfläche (DF) mindestens einer Fehlstelle (7) auf mindestens einer Funktionsoberfläche Z (x, y) eines Bauteils oder Prüfkörpers (1), wobei- das Bauteil oder der Prüfkörper (1) in mindestens einem Messbereich (2) der Funktionsoberfläche Z (x, y) mit mindestens einer hinsichtlich Strahlungsintensität, -richtung und -position definierten Lichtquelle (3) sequentiell aus mindestens vier unterschiedlichen Positionen (a, b, c, d) beleuchtet wird,- von der Funktionsoberfläche Z (x, y) des Bauteils oder Prüfkörpers (1) mit mindestens einer mit einem Steuer- und Rechnersystem (5) verbundenen Kamera (4) bekannter Position jeweils eine unterschiedliche reale Bildaufnahme (Roh-Bild) (Ra, Rb, Rc, Rd) der Funktionsoberfläche Z (x, y) in dem mindestens einen Messbereich (2) erstellt wird,- von dem Steuer-und Rechnersystem (5) auf der Basis der Shape-from-Shading (SfS)-Methode für die vier realen Bildaufnahmen (Roh-Bilder) (Ra, Rb, Rc, Rd) die x- bzw. y-Neigungsbilder (Nx, Ny) der Funktionsoberfläche Z (x, y) berechnet werden,- von der Funktionsoberfläche Z (x, y) des Bauteils oder Prüfkörpers (1) während einer Dunkelfeldbeleuchtung eine Dunkelfeld-Bildaufnahme (D) der Funktionsoberfläche Z (x, y) in dem Messbereich (2) erstellt wird, und- aus den x- bzw. y-Neigungsbild-Berechnungen (Nx, Ny) der Funktionsoberfläche Z (x, y) und den Informationen der Dunkelfeld-Bildaufnahme (D) die reale Defektfläche (DF) der mindestens einen Fehlstelle (7) in dem mindestens einen Messbereich (2) der Funktionsoberfläche Z (x, y) des Bauteils oder Prüfkörpers (1) mittels des Steuer- und Rechnersystems (5) bestimmt wird. The invention relates to the determining of the defective surface (DF) of at least one fault location (7) on at least one functional surface Z (x, y) of a component or test piece (1), comprising the following method steps: sequentially illuminating the component or test piece (1) in at least one measurement region (2) of the functional surface Z (x, y) from at least four different positions (a, b, c, d) with at least one light source (3) that is defined in terms of the intensity, direction and position of radiation; creating a respective different actual image capture (raw image) (R a, R b, R c, R d) of the functional surface Z (x, y) in the at least one measurement region (2) using at least one camera (4) in a known position and connected to a control and computer system (5); calculating the x- or y-slope images (N x, N y) of the functional su