Verfahren und Anlage zum Ermitteln der Defektfläche mindestens einer Fehlstelle auf mindestens einer Funktionsoberfläche eines Bauteils oder Prüfkörpers

Die Erfindung betrifft das Ermitteln der Defektfläche (DF) mindestens einer Fehlstelle (7) auf mindestens einer Funktionsoberfläche Z (x, y) eines Bauteils oder Prüfkörpers (1), umfassend die Verfahrensschritte:das Bauteil oder der Prüfkörper (1) wird in mindestens einem Messbereich (2) der Funktionsoberfläche Z (x, y) mit mindestens einer hinsichtlich Strahlungsintensität, -richtung und -position definierten Lichtquelle (3) sequentiell aus mindestens vier unterschiedlichen Positionen (a, b, c, d) beleuchtet,von der Funktionsoberfläche Z (x, y) des Bauteils oder Prüfkörpers (1) wird mit mindestens einer mit einem Steuer-und Rechnersystem (5) verbundenen Kamera (4) bekannter Position jeweils eine unterschiedliche reale Bildaufnahme (Roh-Bild) (RR, R, R) der Funktionsoberfläche Z (x, y) in dem mindestens einen Messbereich (2) erstellt,von dem Steuer- und Rechnersystem (5) werden auf der Basis der Shape-from-Shading (SfS)-Methode für die vier realen Bildaufnahmen (Roh-Bilder) (RR, R, R) die x- bzw. y-Neigungsbilder (N, N) der Funktionsoberfläche Z (x, y) berechnet,von der Funktionsoberfläche Z (x, y) des Bauteils oder Prüfkörpers (1) wird während einer Dunkelfeldbeleuchtung eine Dunkelfeld-Bildaufnahme (D) der Funktionsoberfläche Z (x, y) in dem Messbereich (2) erstellt, und The invention relates to the determining of the defective surface (DF) of at least one fault location (7) on at least one functional surface Z (x, y) of a component or test piece (1), comprising the following method steps: sequentially illuminating the component or test piece (1) in at least one measurement region (2) of the functional surface Z (x, y) from at least four different positions (a, b, c, d) with at least one light source (3) that is defined in terms of the intensity, direction and position of radiation; creating a respective different actual image capture (raw image) (R a, R b, R c, R d) of the functional surface Z (x, y) in the at least one measurement region (2) using at least one camera (4) in a known position and connected to a control and computer system (5); calculating the x- or y-slope images (N x, N y) of the functional surface Z (x, y) for the four actual image captures (raw images) (R a, R b, R e, R d) on the basis of the shape-from-shading (SFS) method using the control and computer system (5); creating a dark field image capture (D) of the functional surface Z (x, y) in the measurement region (2) during a dark field illumination; and determining the actual defect