Detektor- und Schlitzkonfiguration in einem lsotopenverhältnis-Massenspektrometer

Verfahren zum Konfigurieren eines Faraday-Detektors (140) in einem Massenspektrometer, wobei das Massenspektrometer eine zentrale Ionenstrahlachse (I) definiert und wobei des Weiteren der Faraday-Detektor (140) relativ zu der zentralen Ionenstrahlachse (I) in einer TranslationsRichtung beweglich ist, welche mindesten eine Komponente in einer Richtung quer zum Einfallsionenstrahl aufweist, und eine Detektoranordnung enthält, die eine Detektoroberfläche (230) aufweist, und einen Faraday-Schlitz (210), der einen Eintritt für Ionen in die Detektoranordnung definiert, wobei der Faraday-Detektor (140) eine Längsachse (A) aufweist, die durch den Faraday-Schlitz (210) hindurch verläuft; das Verfahren umfassend die folgenden Schritte:(a) das Auswählen einer Breite des Faraday-Schlitzes (210); und(b) das Justieren eines Winkels α des Faraday-Detektors (140), wobeiα den Winkel zwischen der Längsachse (A) des Faraday-Detektors (140) und der zentralen Ionenstrahlachse (I) repräsentiert,in einer Mehrzahl von verschiedenen Positionen quer zum Einfallsionenstrahl;wobei der Winkel α als ein einziger Kompromisswinkel α zwischen den Achsen (A) und (I) für jede der Mehrzahl von verschiedenen Positionen quer zum Einfallsionenstrahl identifiziert wird,wobei der Kompromisswinkel α entsprechend dem Kriterium ausgewählt wird, dass Artefakte in Folge verlorener Sekundärelektronen, die den Faraday-Detektor (140) durch den Faraday-Schlitz (210) verlassen, minimiert werden. A method of configuring a Faraday detector in a mass spectrometer is described. The mass spectrometer defines a central ion beam axis, and the Faraday detector is moveable relative to the central ion beam axis. The Faraday detector includes a detector arrangement having a detector surface, and a Faraday slit defining an entrance for ions into the detector arrangement. The Faraday detector has an axis of elongation which extends through the Faraday slit. A width of the Faraday slit is chosen, and the angle between the axis of elongation of the Faraday detector and the central ion beam axis is adjusted such that ions striking the detector surface do not generate secondary electrons.