Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Temperatur einer Komponente in einem mechatronischem System
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer Temperatur (T) einer Komponente in einem mechatronischen System (1) mit mehreren Komponenten, mit folgenden Schritten: - Bereitstellen eines Temperaturbeobachtermodells, das Wärmeübergänge zwischen den Komponenten (2, 3, 41, 42, 5, 6) des mech...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer Temperatur (T) einer Komponente in einem mechatronischen System (1) mit mehreren Komponenten, mit folgenden Schritten: - Bereitstellen eines Temperaturbeobachtermodells, das Wärmeübergänge zwischen den Komponenten (2, 3, 41, 42, 5, 6) des mechatronischen Systems (1) und deren Wärmespeicherkapazität berücksichtigt, um eine Temperatur mindestens einer der Komponenten (2, 3, 41, 42, 5, 6) abzubilden; - Zyklisches Berechnen des Temperaturbeobachtermodells, um eine aktuelle Temperatur der mindestens einen Komponenten (2, 3, 41, 42, 5, 6) zu erhalten. |
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