Schaltung und Verfahren zum Testen einer Fehlerkorrektur-Fähigkeit

Schaltung (100) zur Fehlerkorrektur von Daten und zum Überprüfen einer Korrektheit einer Fehlerkorrekturfähigkeit einer Fehlerkorrekturkomponente (130) der Schaltung (100), wobei die Schaltung (100) umfasst:eine Eingangsschnittstelle (110) zum Empfangen eines Eingangsdatenwortes,einen Datenmanipulator (120),die Fehlerkorrekturkomponente (130), undeine Bewertungskomponente (140),wobei die Fehlerkorrekturkomponente (130) dazu ausgelegt ist, zu überprüfen, ob das Eingangsdatenwort fehlerhaft ist,wobei dann, wenn die Fehlerkorrekturkomponente (130) bestimmt, dass das Eingangsdatenwort fehlerhaft ist, die Fehlerkorrekturkomponente (130) dazu ausgelegt ist, das Eingangsdatenwort zu korrigieren, um ein vorkorrigiertes Datenwort zu erhalten, und dazu ausgelegt ist, das vorkorrigierte Datenwort als ein Testdatenwort in den Datenmanipulator (120) einzuspeisen, undwobei dann, wenn die Fehlerkorrekturkomponente (130) bestimmt, dass das Eingangsdatenwort nicht fehlerhaft ist, die Fehlerkorrekturkomponente (130) dazu ausgelegt ist, das Eingangsdatenwort als das Testdatenwort in den Datenmanipulator (120) einzuspeisen,wobei der Datenmanipulator (120) dazu ausgelegt ist, eines oder mehrere Bits des Testdatenwortes zu manipulieren, um ein modifiziertes Datenwort zu erhalten, wobei das Testdatenwort das Eingangsdatenwort ist oder aus dem Eingangsdatenwort abgeleitet ist,wobei die Fehlerkorrekturkomponente (130) dazu angelegt ist, das modifizierte Datenwort zu verarbeiten, undwobei die Bewertungskomponente (140) dazu ausgelegt ist, die Korrektheit der Fehlerkorrekturfähigkeit der Fehlerkorrekturkomponente (130) in Abhängigkeit von der Verarbeitung des modifizierten Datenwortes durch die Fehlerkorrekturkomponente (130) zu bewerten. A circuitry for error-correcting data and for checking a correctness of an error-correction capability of an error-correction component of the circuitry is provided. The circuitry includes an input interface for receiving an input data word. Moreover, the circuitry includes a data manipulator for manipulating one or more bits of a test data word to obtain a modified data word, wherein said test data word is said input data word or is derived from said input data word. Furthermore, the circuitry includes said error-correction component for processing the modified data word. Moreover, the circuitry includes an evaluation component for evaluating the correctness of the error-correction capability of the error-correction component depending on the proc