Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln einer Schichtdickenverteilung bei Solarzellen

Ein Verfahren zum Ermitteln einer lokalen Schichtdicke einer Schicht (20) einer Solarzelle (30) umfasst die folgenden Schritte: Belichten (S110) zumindest eines Abschnittes der Schicht (120) der Solarzelle (30) mit einer Strahlungsquelle (110), um zumindest einen Abschnitt der Solarzelle (30) zu erw...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Wissen, Dirk, Baer, Carsten
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Ein Verfahren zum Ermitteln einer lokalen Schichtdicke einer Schicht (20) einer Solarzelle (30) umfasst die folgenden Schritte: Belichten (S110) zumindest eines Abschnittes der Schicht (120) der Solarzelle (30) mit einer Strahlungsquelle (110), um zumindest einen Abschnitt der Solarzelle (30) zu erwärmen; Erfassen (S120) einer thermischen Strahlung (40) als Resultat der Belichtung (S110) des Abschnittes der Solarzelle (30); und Ermitteln (S130) der lokalen Schichtdicke der Schicht (20) basierend auf der erfassten thermischen Strahlung (40).