Verfahren zur Untersuchung eines Lichtquellenmoduls auf Defekte, Verfahren zur Herstellung eines Lichtquellenmoduls und Vorrichtung zur Untersuchung eines Lichtquellenmoduls
Verfahren zum Untersuchen eines Lichtquellenmoduls auf Defekte umfassend:Vorbereiten eines Boards mit einer lichtaussendenden Vorrichtung darauf und einer Linse, die die lichtaussendende Vorrichtung bedeckt (S 100);Anlegen eines Stroms an die lichtaussendende Vorrichtung, um die lichtaussendende Vor...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren zum Untersuchen eines Lichtquellenmoduls auf Defekte umfassend:Vorbereiten eines Boards mit einer lichtaussendenden Vorrichtung darauf und einer Linse, die die lichtaussendende Vorrichtung bedeckt (S 100);Anlegen eines Stroms an die lichtaussendende Vorrichtung, um die lichtaussendende Vorrichtung anzuschalten (S110);Abbilden der Linse mit der eingeschalteten lichtaussendenden Vorrichtung, um ein Bild der Linse zu erhalten (S120); gekennzeichnet durch,Berechnen einer Zentralsymmetrie, die eine Symmetrie einer Lichtabgabeverteilung von dem Zentrum der Linse basierend auf dem erhaltenen Bild bedeutet (S 130); undVergleichen der berechneten Zentralsymmetrie mit einem Referenzwert, um zu ermitteln, ob eine unsymmetrische Lichtausstrahlungsverteilung aufgetreten ist (S140).
A method for inspecting a light source module for defects includes preparing a board on which a light emitting device and a lens covering the light emitting device are installed. A current is applied to the light emitting device to turn on the light emitting device. The lens is imaged with the light emitting device turned on. A central symmetry denoting a symmetry of light emission distribution from the center of the lens is calculated based on the obtained image, and the calculated central symmetry is compared with a reference value to determine whether unsymmetrical light emission distribution has occurred. Various other methods and apparatuses for inspecting light source modules are additionally provided. |
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