Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Schichtdicke von keramischen Glasuren im ungebrannten Zustand
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Schichtdicke von keramischen Glasuren im ungebrannten Zustand, bei dem die Wirbelstromtechnik zur Ermittlung der Schichtdicke verwendet wird. Das Verfahren ermöglicht die kontinuierliche Kontrolle der Schichtdicke ungebrannter k...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Schichtdicke von keramischen Glasuren im ungebrannten Zustand, bei dem die Wirbelstromtechnik zur Ermittlung der Schichtdicke verwendet wird. Das Verfahren ermöglicht die kontinuierliche Kontrolle der Schichtdicke ungebrannter keramischer Glasuren. |
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