SYSTEME UND VERFAHREN ZUR LOCHMESSUNG UNTER VERWENDUNG EINES NICHT DREHENDEN CHROMATISCHEN PUNKTSENSOR- (CPS) STIFTS
Es werden ein System mit einem chromatischen konfokalen Punktsensor (CPS) und diesbezügliche Verfahren zum Messen von Löchern bereitgestellt. Ein optischer CPS-Stift umfasst ein strahlenteilendes Ablenkelement, das Messlicht gleichzeitig in mindestens drei Richtungen auf die Innenfläche des Lochs ri...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Es werden ein System mit einem chromatischen konfokalen Punktsensor (CPS) und diesbezügliche Verfahren zum Messen von Löchern bereitgestellt. Ein optischer CPS-Stift umfasst ein strahlenteilendes Ablenkelement, das Messlicht gleichzeitig in mindestens drei Richtungen auf die Innenfläche des Lochs richtet. Ein CPS-Elektronikabschnitt umfasst einen Lichtgenerator, ein Spektrometer und einen Signalprozessor. Im Betrieb richtet der CPS-Stift das Messlicht auf die Innenfläche in den mindestens drei Richtungen, und das Spektrometer empfängt das Messlicht, das aus diesen Richtungen zurück durch den Stift reflektiert wird, und stellt ein spektrales Intensitätsprofil bereit, das spektrale Spitzenkomponenten umfasst, die Entfernungen zur Innenfläche in diesen Richtungen entsprechen. Die Locheigenschaft kann mindestens teilweise auf diesen Entfernungen basierend bestimmt werden. Der CPS-Stift kann als Sonde auf einer Koordinatenmaschine (CMM) verwendet werden. Der CPS-Stift muss nicht im Loch gedreht werden, um das Loch zu messen.
A chromatic confocal point sensor (CPS) system and associated methods are provided for measuring holes. A CPS optical pen includes a beam dividing deflecting element that directs measurement light simultaneously along at least three directions to the interior surface of the hole. A CPS electronics portion comprises a light generator, a spectrometer, and a signal processor. In operation, the CPS pen directs measurement light to the interior surface along the at least three directions, and the spectrometer receives measurement light reflected from those directions back through the pen and provides a spectral intensity profile comprising spectral peak components corresponding to distances to the interior surface along those directions. The hole characteristic may be determined based at least partially on those distances. The CPS pen may be used as a probe on a coordinate measuring machine (CMM). The CPS pen does not require rotation in a hole to measure the hole. |
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