Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren

Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H�...

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Hauptverfasser: BREITLING, ACHIM, PATAK, CHRISTIAN
Format: Patent
Sprache:ger
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creator BREITLING, ACHIM
PATAK, CHRISTIAN
description Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden. The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). The hall sensor region (HS; HS'; HS") is electrically connected to a hall sensor evaluation circuit device (101) formed in the ASIC substrate (AC; AC'), via a conductor unit (L2) guided through the insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5).
format Patent
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Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden. The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). The hall sensor region (HS; HS'; HS") is electrically connected to a hall sensor evaluation circuit device (101) formed in the ASIC substrate (AC; AC'), via a conductor unit (L2) guided through the insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5).</description><language>ger</language><subject>ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20151217&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102014211311A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20151217&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102014211311A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BREITLING, ACHIM</creatorcontrib><creatorcontrib>PATAK, CHRISTIAN</creatorcontrib><title>Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren</title><description>Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden. The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). 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