Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren
Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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creator | BREITLING, ACHIM PATAK, CHRISTIAN |
description | Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden.
The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). The hall sensor region (HS; HS'; HS") is electrically connected to a hall sensor evaluation circuit device (101) formed in the ASIC substrate (AC; AC'), via a conductor unit (L2) guided through the insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5). |
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The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). The hall sensor region (HS; HS'; HS") is electrically connected to a hall sensor evaluation circuit device (101) formed in the ASIC substrate (AC; AC'), via a conductor unit (L2) guided through the insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5).</description><language>ger</language><subject>ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20151217&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102014211311A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20151217&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102014211311A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BREITLING, ACHIM</creatorcontrib><creatorcontrib>PATAK, CHRISTIAN</creatorcontrib><title>Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren</title><description>Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden.
The present invention relates to a magnetic field sensor arrangement, to a corresponding manufacturing method and to an operating method. The magnetic field sensor arrangement comprises an ASIC substrate (AC; AC) having a front face (VS) and a rear face (RS) and a hall sensor device (H; Η'; H") which has a hall sensor region (HS; HS'; HS") that consists of a III-V semiconductor material, said region being embedded in an insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) applied to the front face (VS). The hall sensor region (HS; HS'; HS") is electrically connected to a hall sensor evaluation circuit device (101) formed in the ASIC substrate (AC; AC'), via a conductor unit (L2) guided through the insulation layer arrangement (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5).</description><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjbsKwkAQRbexEPUftrFTyCT-gI9IGjutw5q9SYRldpnZ-P2mEGytLpxz4C7N4-YGRu4RvII1iuMonicedhacNQm6EeyhtoFoRgiz0zekd6OA7cTenpDlheePrs2id0Gx-e7KbK_1_dzskWILTa7DfNpeairKgg4lUUV0pOrf7gOolDx1</recordid><startdate>20151217</startdate><enddate>20151217</enddate><creator>BREITLING, ACHIM</creator><creator>PATAK, CHRISTIAN</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20151217</creationdate><title>Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren</title><author>BREITLING, ACHIM ; PATAK, CHRISTIAN</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102014211311A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2015</creationdate><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BREITLING, ACHIM</creatorcontrib><creatorcontrib>PATAK, CHRISTIAN</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BREITLING, ACHIM</au><au>PATAK, CHRISTIAN</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Magnetfeldsensoranordnung, entsprechendes Herstellungsverfahren und Betriebsverfahren</title><date>2015-12-17</date><risdate>2015</risdate><abstract>Die vorliegende Erfindung schafft eine Magnetfeldsensoranordnung, ein entsprechendes Herstellungsverfahren sowie ein Betriebsverfahren. Die Magnetfeldsensoranordnung umfasst ein ASIC-Substrat (AC; AC') mit einer Vorderseite (VS) und einer Rückseite (RS) sowie eine Hallsensoreinrichtung (H; H'; H''), welche einen aus einem III-V-Halbleitermaterial gebildeten Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') aufweist, der in eine auf die Vorderseite (VS) aufgebrachte Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) eingebettet ist. Der Hallsensorbereich (HS; HS'; HS'') ist über eine durch die Isolationsschichtenanordnung (I0, I1, I2, I3; I0, I1, I2, I3, I4, I5) geführte Leiterbahneinrichtung (L2) elektrisch mit einer im ASIC-Substrat (AC; AC') gebildeten Hallsensor-Auswerteschaltungseinrichtung (101) verbunden.
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