Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung des Transmissionsgrads eines Flachglas-Substrats

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine zugehörige Vorrichtung zur Überprüfung des Transmissionsgrads eines Flachglas-Substrats (40) mit einer Messvorrichtung (10), mit der Licht wenigstens einer Lichtquelle (20) von einer Seite des Flachglas-Substrats (40) durch das Flachglas-Substrat (40) hindurch auf die gegenüber liegende Seite des Flachglas-Substrats (40) geleitet wird, wo es durch wenigstens eine Empfängereinheit (30) erfasst wird und anhand eines Vergleichs zwischen der Intensität des von der Lichtquelle (20) ausgesandten Lichts und des auf die Empfängereinheit (30) fallenden Lichts der Transmissionsgrad des Flachglas-Substrats (40) bestimmt wird. Bei einer ersten Messung erzeugt eine Lichtquelle (20) dabei polychromatisches Licht, wobei der Transmissionsgrad an einer Stelle des Flachglas-Substrats (40) bestimmt wird, und in wenigstens einer weiteren Messung erzeugt eine Lichtquelle (20) monochromatisches Licht einer definierten Wellenlänge, wobei der Transmissionsgrad möglichst an der gleichen Stelle des Flachglas-Substrats (40) ebenfalls ermittelt wird. Durch einen Vergleich der wenigstens zwei Messungen wird ermittelt, ob der Transmissionsgrad bei allen Messungen annähernd gleich oder nicht gleich ist, um so die Ursache für einen verminderten Transmissionsgrad besser eingrenzen zu können. A method and an associated device for verifying the transmittance of a flat-glass substrate. Light of a light source is guided through the flat-glass substrate and is captured by a receiving unit. The transmittance of the flat-glass substrate is determined by means of a comparison between the intensity of the light emitted by the light source and the light incident upon the receiving unit. In a first measurement, a light source generates polychromatic light, wherein the transmittance is determined at a point of the flat-glass substrate. In at least one further measurement, a light source generates monochromatic light of a defined wavelength, the transmittance also being determined at the same point of the flat-glass substrate. By comparing the at least two measurements, it is determined whether the transmittance is approximately the same or not the same in all measurements, in order to narrow down the cause for a reduced transmittance.