Chip und Verfahren zum Testen eines Chips

Chip, umfassend:einen Stift;eine Schnittstelle, gekoppelt mit dem Stift,konfiguriert zum Empfangen von Testdaten über den Stift; undeine Verarbeitungskomponente, konfiguriert zum Erzeugen einer Testantwort basierend auf einer Verarbeitung der Testdaten;wobei die Schnittstelle konfiguriert ist, die T...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Pfannkuchen, Ulrike, Tille, Daniel, Dirscherl, Gerd, Sefzik, Nikolai
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Chip, umfassend:einen Stift;eine Schnittstelle, gekoppelt mit dem Stift,konfiguriert zum Empfangen von Testdaten über den Stift; undeine Verarbeitungskomponente, konfiguriert zum Erzeugen einer Testantwort basierend auf einer Verarbeitung der Testdaten;wobei die Schnittstelle konfiguriert ist, die Testantwort über den Stift auszugeben;wobei die Verarbeitungskomponente eine Vielzahl von Abtastketten umfasst; undwobei jede Abtastkette eine Vielzahl von Flip-Flops umfasst und die Testantwort den Status jedes Flip-Flops jeder Abtastkette der Vielzahl von Abtastketten nach der Verarbeitung des Testmusters spezifiziert.