Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen

Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen (4) mit wenigstens einem Prüfsockel (1) mit Prüfkontakten (2), mit einem einem Nest (3), in dem wenigstens ein elektronisches Bauteil (4) platzierbar ist und mit wenigstens einer Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) für die Prüfkontakte (2) des Prüfsockels (1), wobei das elektronische Bauteil (4) durch eine als Prüfhub ausführbare Relativbewegung zwischen Prüfsockel (1) und Nest (3) an die Prüfkontakte (2) des Prüfsockels (1) andrückbar und wieder von diesen abhebbar ist. Erfindungsgemäß ist die wenigstens eine Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) so ausgestaltet, dass die Prüfkontakte (2) bei jedem Prüfhub mit der wenigstens einen Reinigungseinheit (6, 7; 8, 9; 10, 7, 9) in Kontakt kommen. Embodiments of the invention is based on a device for testing electronic components with at least one test socket with test contacts, with a nest, in which at least one electronic component can be placed, and with at least one cleaning unit for the test contacts of the test socket, wherein by means of a relative movement, which can be carried out as a test stroke, between the test socket and nest the electronic component can be pressed against, and lifted from, the test contacts of the test socket. According to embodiments of the invention the at least one cleaning unit is designed in such a manner that during each test stroke the test contacts come into contact with the at least one cleaning unit.