Verfahren und Vorrichtung zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung

Verfahren zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung (18), innerhalb derer sowohl über ein digitales Signal (13) als auch über ein analoges Signal (8) zwischen einem digitale Prozesswerte (4) erzeugenden Feldgerät (1) und einem Eingabe- / Ausgabe-Gerät (E/A-Gerät) (9) kommuniziert wird, wobei das analo...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Merlin, Tilo, Keul, Thomas, Overhoff, Dietmar
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS SIGNALLING TARIFF METERING APPARATUS TESTING TRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILARSIGNALS
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