Verfahren und Vorrichtung zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung

Verfahren zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung (18), innerhalb derer sowohl über ein digitales Signal (13) als auch über ein analoges Signal (8) zwischen einem digitale Prozesswerte (4) erzeugenden Feldgerät (1) und einem Eingabe- / Ausgabe-Gerät (E/A-Gerät) (9) kommuniziert wird, wobei das analo...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Merlin, Tilo, Keul, Thomas, Overhoff, Dietmar
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS SIGNALLING TARIFF METERING APPARATUS TESTING TRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILARSIGNALS
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Verfahren zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung (18), innerhalb derer sowohl über ein digitales Signal (13) als auch über ein analoges Signal (8) zwischen einem digitale Prozesswerte (4) erzeugenden Feldgerät (1) und einem Eingabe- / Ausgabe-Gerät (E/A-Gerät) (9) kommuniziert wird, wobei das analoge Signal (8) durch einen Digital-Analog-Wandler (DAC) (6) erzeugt und durch einen Analog-Digital-Wandler (ADC) (7) empfangen wird, die Fehleranalyse auf einem Vergleich digital und analog übermittelter Daten basierend, dadurch gekennzeichnet, dass in einem Integrationsschritt über eine Integrationsdauer hinweg die digitalen Prozesswerte (4) und gleichzeitig deren analog an das E/A-Gerät (9) übermittelte Prozesswertkopien (10) integriert werden, wonach in einem Vergleichsschritt ein auf dem Integral der Prozesswerte (4) basierendes Maß mit einem auf dem Integral der Prozesswertkopien (10) basierenden Maß verglichen wird.