System und Verfahren zur Distanzmessung

System (500) zur Distanzmessung, umfassend - ein Mehrwellenlängenholographiemodul (100) zum Erfassen eines Holographiemessdatensatzes für zumindest einen Messpunkt auf Basis von zumindest einer synthetischen Wellenlänge, wobei das Mehrwellenlängenholographiemodul (100) aufweist: - zumindest zwei Holographielichtquellen (110, 112, 114, 116) zum Erzeugen von zumindest zwei kohärenten Holographielichtstrahlen mit unterschiedlichen Wellenlängen, - zumindest einen Strahlteiler (124, 160) zum Aufteilen jedes Holographielichtstrahls in einen Objektlichtstrahl (155) und einen Referenzlichtstrahl (135), und - zumindest ein Beugungselement (134, 138) zum dispersiven Verkippen der Referenzlichtstrahlen (135), wobei das zumindest eine Beugungselement (134, 138) ausgelegt und angeordnet ist, um für jede Wellenlänge der zumindest zwei Holographielichtstrahlen einen zugehörigen Schätzwert zu bestimmen, und wobei das System ferner umfasst: - ein Referenzierungsmodul (300) zum Bestimmen der zumindest einen synthetischen Wellenlänge auf Basis der zugehörigen Schätzwerte, und - ein Auswertemodul zum Bestimmen der Distanz des zumindest einen Messpunkts. The present invention relates to a system and a method for distance measurement. The system for distance measurement comprises - a multiple-wavelength holography module (100) for detecting a holography measurement data set for at least one measurement point on the basis of at least one synthetic wavelength, the multiple-wavelength holography module (100) having: - at least two holography light sources (110, 112, 114, 116) for generating at least two coherent holography light beams having different wavelengths, - at least one beam splitter (124, 160) for splitting each holography light beam into an object light beam (155) and a reference light beam (135), and - at least one diffraction element (134, 138) for the dispersive diffraction of the reference light beams (135).