Profilmessgerät, Einstellverfahren für Profilmessgerät und Profilmessverfahren

Profilmessgerät (1), verwendbar zum Vornehmen einer rotatorischen Abtastmessung und einer linearen Abtastmessung an einem Werkstück (W) in Form eines Rotationskörpers, aufweisend:einen Drehtisch (10), auf welchem das Werkstück (W) befestigt wird, wobei der Drehtisch (10) um eine vordefinierte Drehac...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Omori, Yoshiyuki, Shindo, Hideki
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Profilmessgerät (1), verwendbar zum Vornehmen einer rotatorischen Abtastmessung und einer linearen Abtastmessung an einem Werkstück (W) in Form eines Rotationskörpers, aufweisend:einen Drehtisch (10), auf welchem das Werkstück (W) befestigt wird, wobei der Drehtisch (10) um eine vordefinierte Drehachse drehbar ist;eine rotatorische Abtastmesseinheit (20), welche dafür eingerichtet ist, eine Verschiebung einer Oberfläche des auf dem Drehtisch (10) befestigten Werkstücks (W) zu vermessen;eine lineare Abtastmesseinheit (30), getrennt von der rotatorischen Abtastmesseinheit (20) bereitgestellt, wobei die lineare Abtastmesseinheit (30) dafür eingerichtet ist, ein Profil der Oberfläche des auf dem Drehtisch (10) befestigten Werkstücks (W) entlang einer vordefinierten Messachse zu vermessen; undeinen Ausrichtmechanismus (40), welcher dafür eingerichtet ist, die lineare Abtastmesseinheit (30) und den Drehtisch (10) in einer die Messachse kreuzenden Richtung relativ zu bewegen, wobeidie lineare Abtastmesseinheit (30) und der Drehtisch (10) mittels des Ausrichtmechanismus (40) auf relative Positionen eingestellt werden, bei welchen die Messachse durch die Drehachse verläuft. A profile measuring instrument usable to perform a rotary scanning measurement and a linear scanning measurement on a workpiece in the form of a revolution solid, includes: a turntable on which the workpiece is mounted, the turntable being rotatable around a predetermined rotation axis; a rotary scanning measurement unit being adapted to measure a displacement of a surface of the workpiece mounted on the turntable; a linear scanning measurement unit being adapted to measure a profile of the surface of the workpiece mounted on the turntable along a predetermined measurement axis; and an aligning mechanism being adapted to relatively move the linear scanning measurement unit and the turntable in a direction intersecting with the measurement axis. The linear scanning measurement unit and the turntable are adjusted to relative positions at which the measurement axis passes through the rotation axis.