Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements und Feldeffekt-Halbleiterbauelement
Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements (100), das Folgendes umfasst:- Bereitstellen eines Wafers, der eine Hauptoberfläche (101) und eine an der Hauptoberfläche (101) angeordnete und eine Stickstoffkonzentration von mindestens etwa 5*1014cm-3aufweisende Siliziumschicht (40) umfasst; un...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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