Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements und Feldeffekt-Halbleiterbauelement

Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements (100), das Folgendes umfasst:- Bereitstellen eines Wafers, der eine Hauptoberfläche (101) und eine an der Hauptoberfläche (101) angeordnete und eine Stickstoffkonzentration von mindestens etwa 5*1014cm-3aufweisende Siliziumschicht (40) umfasst; un...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Irsigler, Peter, Schulze, Hans-Joachim
Format: Patent
Sprache:ger
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