Verfahren und Schaltungseinheit zum Ermitteln von Fehlerzuständen einer Halbbrückenschaltung
Ein Gegenstand der Anmeldung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln von Fehlerzuständen einer, zumindest einen ersten Halbleiterschalter (HS1) und einen zweiten Halbleiterschalter (HS2) aufweisenden Halbbrückenschaltung (HBS), wobei der erste Halbleiterschalter (HS1) und der zweite Halbleiterschalter...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | ger |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!