Testprobenvorrichtung und Testverfahren für ein optisches, im Sub-Wellenlängenbereich auflösendes Mikroskop

Testprobenvorrichtung für ein optisches Mikroskop (17), das eine Probe in verschiedenen Leuchtzuständen mit einer Ortsauflösung im Sub-Wellenlängenbereich des sichtbaren Spektralbereiches abbildet, wobei die Testprobenvorrichtung umfasst- einen Probenkörper (10),- der zum Mikroskopieren mit dem Mikroskop (17) ausgebildet ist und- eine Oberfläche aufweist, auf der Nanostrukturen (28) angeordnet sind,- wobei jede Nanostruktur (28) längs der Oberfläche gesehen eine Ausdehnung im Sub-Wellenlängenbereich hat,- wobei die Nanostrukturen (28) voneinander um ein Maß beabstandet sind, das oberhalb der Wellenlänge des sichtbaren Spektralbereiches liegt, und- wobei die Nanostrukturen kollektiv zwischen einem Hellzustand, in dem sie leuchten, und einem Dunkelzustand, in dem sie nicht leuchten, umschaltbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass- die Testprobenvorrichtung weiter einen Antrieb (29) umfasst, der zur Verschiebung des Probenkörpers (10) im Sub-Wellenlängenbereich ausgebildet ist, wodurch verschiedene Leuchtzustände durch verschiedene Verschiebezustände des Probenkörpers (10) mit jeweils in den Hellzustand geschalteten Nanostrukturen (28) realisierbar sind. A test sample device for an optical microscope which images a sample in different light states with a local resolution in the subwavelength range of the visible spectral range, wherein the test sample device comprises: a test piece, which is designed to be microexamined with the microscope and has a surface on which nanostructures are arranged, wherein each nanostructure, viewed along the surface, has a dimension in the subwavelength range, wherein the nanostructures are spaced apart from one another by an amount which lies above the wavelength of the visible spectral range, and wherein the nanostructures are switchable collectively between a bright state, in which they illuminate, and a dark state, in which they do not illuminate, and a drive, which is designed to move the test piece in the subwavelength range, whereby the different light states can be realized by different movement states of the test piece.