Vorrichtung zur Diagnose einer Schaltungsanordnung

Vorrichtung zur Diagnose einer Schaltungsanordnung auf einen Kurzschluss und/oder eine Leitungsunterbrechung, wobei die Schaltungsanordnung zumindest zwei parallel verschaltete Lastkreise (10, 20, 30) umfasst, wobei jeder Lastkreis (10, 20, 30) aus der Serienschaltung einer Last (11, 21, 31) und eines steuerbaren Schaltelements (12, 22, 32) gebildet ist, bei der - eine Strommesseinrichtung (40) in einer gemeinsamen Versorgungsleitung der zumindest zwei parallel verschalteten Lastkreise (10, 20, 30) verschaltet ist zur Bereitstellung eines den Strom in der gemeinsamen Versorgungsleitung repräsentierenden Stromsignals (VHS_CUR); - eine Spannungsmesseinrichtung (50) zur Erfassung und Bereitstellung einer Knotenpunktspannung (V1, V2, V3) jedes Lastkreises (10, 20, 30) bei den beiden Schaltzuständen des jeweiligen Schaltelements (12, 22, 32) vorgesehen ist; - eine Auswerteeinrichtung (60), der das Stromsignal und die Knotenpunktspannungen (V1, V2, V3) zuführbar sind, wobei die Auswerteeinrichtung dazu ausgebildet ist, das Stromsignal in zumindest einen logischen Stromwert (OC_HS, UC_HS) und die Knotenpunktspannungen (V1, V2, V3) in logische Spannungswerte (LS_High, LS_Low) zu konvertieren und anhand von vorgegebenen Kombinationen des zumindest einen logischen Stromwerts (OC_HS, UC_HS) und der logischen Spannungswerte (LS_High, LS_Low) auf die Art und den Ort des Fehlers zu schließen, - wobei die Auswerteeinrichtung (60) eine Stromauswerteeinheit umfasst, welche zum Vergleich des Stromsignals (VHS_CUR) mit einem ersten Schwellwert (VHS_OC_THD) und einem zweiten Schwellwert (VHS_UC_THD) ausgebildet ist, wobei ein Vergleichsergebnis mit dem ersten Schwellwert (VHS_OC_THD) einen ersten logischen Stromwert (OC_HS) und ein Vergleichsergebnis mit dem zweiten Schwellwert (VHS_UC_THD) einen zweiten logischen Stromwert (UC_HS) repräsentiert, - wobei die Auswerteeinrichtung (60) eine Spannungsauswerteeinheit (66) umfasst, welche zum Vergleich einer Knotenpunktspannung mit einem ersten Schwellwert (VLS_High_THD) und einem zweiten Schwellwert (VLS_Low_THD) ausgebildet ist, wobei ein Vergleichsergebnis mit dem ersten Schwellwert (VLS_High_THD) einen ersten logischen Spannungswert (LS_High) und ein Vergleichsergebnis mit dem zweiten Schwellwert (VLS_Low_THD) einen zweiten logischen Spannungswert (LS_Low) repräsentiert. An apparatus for diagnosing a circuit arrangement for a short circuit and/or a line interruption. The circuit arrangement has at least two load circuits which