VERFAHREN UND SYSTEM ZUM AUSWERTEN DES ZUSTANDES EINER ANSAMMLUNG VON ÄHNLICHEN LÄNGLICHEN HOHLEN OBJEKTEN

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abschätzen von Parametern von Defekten, die in mindestens einem länglichen hohlen Objekt (EHO) (214) aus einer Gruppe mit einer Vielzahl von ähnlichen EHOs existieren, wobei die EHOs vorzugsweise in einem Bündel von EHOs vorhanden sind, wobei das Verfahren di...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: PRIMACK, HAREL, ZILBERMAN, SILVIU, AMIR, NOAM, BARZELAY, ODED, PECHTER, TAL, SILBERSTEIN, SHAI
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abschätzen von Parametern von Defekten, die in mindestens einem länglichen hohlen Objekt (EHO) (214) aus einer Gruppe mit einer Vielzahl von ähnlichen EHOs existieren, wobei die EHOs vorzugsweise in einem Bündel von EHOs vorhanden sind, wobei das Verfahren dines zerstörungsfreien Test-Systems (200) an einem ersten EHO (214) aus der Gruppe; Messen der Antwort des ersten EHO an einer Vielzahl von Punkten entlang der Länge des ersten EHO, um die Messergebnisse des ersten EHO entlang der Länge des ersten EHO zu erhalten; Wiederholen der Schritte des Anordnens und des Messens für jedes der verbleibenden EHO aus der Gruppe mit der Vielzahl von ähnlichen EHOs (214), um die Messergebnisse entlang der Länge von jedem der EHO innerhalb der Gruppe zu erhalten; Anwenden einer statistischen Analyse auf die erhaltenen Messergebnisse aller EHOs aus der Gruppe an jedem Punkt der Vielzahl von Punkten entlang des EHO; Vergleichen mit den erhaltenen Messergebnissen des ersten EHO an jedem korrespondierenden Punkt aus der Vielzahl von Punkten entlang des ersten EHO, um ein angepasstes Ergebnis für das erste EHO zu bestimmen. Weiterhin betrifft die Erfindung ein System zur Bestimmung von angepassten Ergebnissen und ein Speichermedium zum Speichern von Instruktionen zur Implementierung des Verfahrens. A tester that evaluates the condition of a plurality of elongated hollow objects by emitting a signal into the objects and measuring the reflected signals at particular sample points, generating a statistically related base signal based on the values at each such sample point and creating an adjusted signal for each measures signal by modifying as a function of the base signal. Analyze the adjusted signals to look for anomalies within each object.