Konfokales Rastermikroskop und Betriebsverfahren für ein solches sowie Verfahren zum Manipulieren einer Probe

Bei starker Übersteuerung eines Photovervielfachers (PMT) schalten bekannte Überlastschütze die Betriebshochspannung des PMT ab. Die Reaktionszeit der Hochspannung liegt dabei im Bereich von Millisekunden. Dadurch kommt es beim Bleichen mit einem Laser-Scanning-Mikroskop zu einer späten Abschaltung des PMT, wodurch dieser beschädigt werden kann, und einer noch stärker verzögerten Wiedereinschaltung des PMT, wodurch nachfolgende Probenbereiche nicht aufgenommen werden können. Die Erfindung soll einen PMT beim Bleichen besser vor Überlastung schützen und eine schnelle Wiedereinschaltung nach dem Ende des Bleichens ermöglichen. Zu diesem Zweck sind ein Schalter (7), der im aktivierten Schaltzustand im Vergleich zum desaktivierten Schaltzustand die Spannung zwischen der Photokathode (2.1) und der ersten Dynode (2.2) reduziert, und eine Steuereinheit (34), die eingerichtet ist zum Bewegen eines mittels der Lichtquelle bestrahlbaren Zielflecks über ein Abtastfeld mittels einer Ablenkeinheit, wobei die Steuereinheit (34) beim Eintritt des Zielflecks in eine vorgegebene Region des Abtastfeldes den Schalter (7) aktiviert und beim Verlassen der Region den Schalter (7) desaktiviert, vorgesehen. Laser-Scanning-Mikroskope A switch which reduces the voltage between the photocathode and the first dynode in the activated switching state compared to the deactivated switching state and a control unit which is adapted to move a target spot, which can be illuminated by means of the light source, over a scanning field by means of a deflecting unit. The control unit activates the switch when the target spot enters a given region of the scanning field and deactivates the switch when the target spot exits the region.