Verfahren zum Messen der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe
Verfahren zum Messen der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, gekennzeichnet durch folgende Schritte:a. Erzeugen eines Anregungslichtpulses und Beleuchten eines Probenbereichs mit dem Anregungslichtpuls,b. Erzeugen einer ersten digitalen D...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren zum Messen der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, gekennzeichnet durch folgende Schritte:a. Erzeugen eines Anregungslichtpulses und Beleuchten eines Probenbereichs mit dem Anregungslichtpuls,b. Erzeugen einer ersten digitalen Datenfolge, die den zeitlichen Lichtleistungsverlauf des Anregungslichtpulses repräsentiert,c. Ermitteln eines ersten Schaltzeitpunktes aus der ersten digitalen Datenfolge,d. Detektieren des von dem Probenbereich ausgehenden Detektionslichtes mit einem Detektor,e. Erzeugen einer zweiten digitalen Datenfolge, die den zeitlichen Lichtleistungsverlauf des Detektionslichtes repräsentiert,f. Ermitteln eines zweiten Schaltzeitpunktes aus der zweiten digitalen Datenfolge undg. Berechnen der zeitlichen Differenz zwischen dem ersten und dem zweiten Schaltzeitpunkt.
The method involves illuminating a sample region with an excitation pulse. A digital data sequence is generated, where the sequence is representative of a power-time profile of the pulse. A switching instant is determined from the sequence. A detection light (18) emanating from the region is detected by a detector (20). Another digital data sequence is generated, where the latter sequence is representative of a power-time profile of the detection light. Another switching instant is determined from the latter sequence, and a time difference between the two switching instants is calculated. An independent claim is also included for a device for measuring lifetime of an excited state in a sample. |
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