Verfahren zum Messen eines Gießspiegels mittels eines radiometrischen Messsystems und radiometrisches Messsystem
Verfahren zum Messen eines Gießspiegels mittels eines radiometrischen Messsystems, bei dem eine durch eine Strahlungsquelle bewirkte Zählrate zum Messen des Gießspiegels ausgewertet wird, mit den Schritten: a1) Bestimmen von n unabhängigen Zählraten-Messwerten (Ri) in gleichen zeitlichen Abständen Δ...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren zum Messen eines Gießspiegels mittels eines radiometrischen Messsystems, bei dem eine durch eine Strahlungsquelle bewirkte Zählrate zum Messen des Gießspiegels ausgewertet wird, mit den Schritten: a1) Bestimmen von n unabhängigen Zählraten-Messwerten (Ri) in gleichen zeitlichen Abständen Δt in einem ersten Zeitfenster mit einer ersten Dauer (T1), b1) Festlegen einer ersten Funktion (), die einem Zeitpunkt innerhalb des ersten Zeitfensters eine gefilterte Zählrate zuordnet, wobei die erste Funktion mindestens einen ersten Parameter (c1, c2) aufweist, c1) Ermitteln eines optimalen, ersten Parameterwerts des mindestens einen ersten Parameters (c1, c2) in Abhängigkeit von den n Zählraten-Messwerten (Ri) mittels eines Maximum-Likelihood-Schätzverfahrens, d1) Bestimmen eines ersten, gefilterten Zählraten-Messwerts () durch Einsetzen eines vorgegebenen Zeitpunkts in die mit dem ermittelten ersten, optimalen Parameterwert parametrierte erste Funktion () wobei der vorgegebene Zeitpunkt dem Ende des Zeitfensters entspricht, e1) Verschieben des Zeitfensters um Δt und f1) Wiederholen der Schritte a1) bis e1) zum zeitlich fortlaufenden Ermitteln von ersten, gefilterten Zählraten-Messwerten.
The method involves determining count rate measured value in a first time window having a first duration. A function relating a time assigned within the first time window, and a filtered count rate is determined. An optimal parameter value is determined as a function of specific count rate measured value. The filtered count rate measured value is determined by inserting a predetermined timing in the values obtained with respect to optimum parameterized function. The time window is shifted to sequentially determine the filtered count rate measured value. An independent claim is included for radiometric measuring system for measuring process variable. |
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