Konzept zum Einstellen von Prozessparametern eines Walzprozesses mittels eines gemessenen Lagerschlupfes
Vorgeschlagen wird ein Konzept zum Regeln oder Steuern einer Mehrzahl von Prozessparametern (13-n), die ein Zusammenwirken einer Mehrzahl von Walzen (11; 12) eines Walzwerks (10) in einem Walzprozess bestimmen. Dabei wird während des Walzprozesses ein Messwert (15) für einen Lagerschlupf wenigstens...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Vorgeschlagen wird ein Konzept zum Regeln oder Steuern einer Mehrzahl von Prozessparametern (13-n), die ein Zusammenwirken einer Mehrzahl von Walzen (11; 12) eines Walzwerks (10) in einem Walzprozess bestimmen. Dabei wird während des Walzprozesses ein Messwert (15) für einen Lagerschlupf wenigstens eines Wälzlagers (16) ermittelt, mit dem eine der Walzen (11; 12) gelagert ist. Daraufhin wird wenigstens einer der Prozessparameter (13-n) basierend auf dem gemessenen Lagerschlupf (15) eingestellt, sodass der Lagerschlupf der Walze (11; 12) während des Walzprozesses in einem vordefinierten Bereich um einen Lagerschlupfsollwert liegt. |
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