Verfahren und Vorrichtung zur materialspezifischen Charakterisierung eines Halbleiterbauelements

Verfahren zur materialspezifischen Charakterisierung zumindest eines Halbleiterbauelementes in Form eines Solarmoduls oder von verschalteten Solarmodulen, dadurch gekennzeichnet, dass das Halbleiterbauelement durch eine Wechselspannung über einen weiten Frequenzbereich angeregt wird, dass die Wechselspannung zwischen kurzgeschlossenen Anschlüssen des Halbleiterbauelementes und Masse angelegt wird, dass ein Impedanzverlauf des Halbleiterbauelementes als Funktion des Frequenzgangs gemessen wird und dass ein Vergleich des Impedanzverlaufes mit einem Impedanzverlauf eines Ausgangszustandes des Halbleiterbauelementes zur Erkennung von durch Korrosions- oder Kontaktproblemen oder Delaminationen verursachten Fehlfunktionen verwendet wird. The invention relates to a method for characterizing a specific material of at least one solar cell modules. A corresponding method is further developed in that changes over time in the materials used in the solar cell module, resulting from external and internal causes, are detected in time before greater damage occurs. The aim is achieved according to the invention in that the solar cell module is excited by an AC voltage over a wide frequency range, and the impedance of the solar cell module is measured as a function of the frequency response.