Detektoranordnung mit erhöhter Empfindlichkeit durch Lichtablenkelemente mit einer ebenen Lichteintrittsfläche

Detektoranordnung mit einem Lichteintrittsflächen (305b, 405b, 505b, 805b) aufweisenden Lichtablenkelement (305, 405, 505, 701, 805), welches einfallendes Licht durch Refraktion auf lichtempfindliche Bereiche (304, 404, 504, 604, 804) eines Detektors (302, 402, 502, 602, 802) ablenkt, wobei eine der Lichteintrittsflächen (305b, 405b, 505b, 805b) als ebene Fläche ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Lichtablenkelement (305, 405, 505, 701, 805) aus PMMA besteht und auf ein Glassubstrat (703) aufgebracht ist. To increase the sensitivity of detector arrangements, it is known that light deflection elements in the form of a line arrays having spherical elements may be used to focus incident light onto light-sensitive regions of the detector. Manufacturing such line arrays is complex and cost intensive, especially in small lot numbers. The increased sensitivity of the detector array can be achieved easily and inexpensively by using a novel light deflection element. The detector arrangement therefore has a light deflection element having light entrance surfaces, deflecting incident light by refraction onto light-sensitive regions of the detector. Light entrance surfaces of the light deflection element are inclined with respect to one another and are designed as planar surfaces. The detector arrangement is suitable in particular for detection of light emanating from a specimen in a microscope, preferably in a laser-scanning microscope.