Vorrichtung zur Untersuchung einer Oberfläche eines Objekts
Teilchenstrahlgerät (1), mit - einer ersten Teilchenstrahlsäule (2), die einen ersten Strahlerzeuger (5) zur Erzeugung eines Elektronenstrahls und ein erstes Strahlführungssystem (13, 16, 37) aufweist, - einer zweiten Teilchenstrahlsäule (45), die einen zweiten Strahlerzeuger (38) zur Erzeugung eine...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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