Method for three-dimensional optical measuring of object with topometric measuring process, involves selecting partial areas of objects such that reflections of patterns on surface of object do not influence patterns in partial areas

The method involves recording images of an object (2) together with projection patterns by an image recording unit (4). The images of an object are evaluated by an image evaluating unit (5), and the projection patterns are projected by a projector (3) on the object. Partial areas of the objects are selected such that reflections of the projection patterns on a surface of the object do not influence the projection patterns in the partial areas. The object is recorded together with the projection patterns to be projected in the partial areas. An independent claim is also included for a measuring system for three-dimensional optical measuring of an object. Ein Verfahren und ein Messsystem zum dreidimensionalen Vermessen von Objekten (2) mit einem topometrischen Messverfahren werden beschrieben, bei dem Bilder eines Objektes (2) mitsamt eines von einem Projektor (3) auf das Objekt (2) projizierten Projektionsmusters mit einer Bildaufnahmeeinheit (4) aufgenommen und mit einer Bildauswerteeinheit (5) ausgewertet werden. Bei dem Verfahren erfolgt ein Auswählen von Teilbereichen (Ti) des Objektes (2) so, dass Reflexionen des Projektionsmusters an der Oberfläche des Objektes (2) das Projektionsmuster in diesem Teilbereich (Ti) nicht beeinflussen und ein Projizieren des Projektionsmusters nacheinander, beschränkt auf die ausgewählten Teilbereiche (Ti) des Objektes (2), durch entsprechende Ansteuerung einer Bildprojektionseinheit des Projektors (3) und Aufnahmen des Objektes (2) mitsamt des dort aufprojizierten Projektionsmusters mindestens in dem jeweils ausgewählten Teilbereich (Ti) möglich ist.