Method for testing electronic component, involves generating test sequence and supplying test sequence to electronic component, where error detection is carried out by comparing response signal with predetermined threshold

The method involves generating a test sequence and supplying the test sequence to an electronic component. A response signal of the electronic component is received, where error detection is carried out by comparing the response signal with a predetermined threshold. The test sequence is automatically changed by a state model as long as an error is detected. Independent claims are included for the following: (1) a computer program product; and (2) a testing device. In einer Ausführungsform betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Überprüfung eines elektronischen Bauelements, bei welchem mindestens eine Testsequenz erzeugt und diese Testsequenz dem elektronischen Bauelement zugeführt wird, nachfolgend ein Antwortsignal des elektronischen Bauelementes empfangen und eine Fehlererkennung durch Vergleichen des Antwortsignals mit mindestens einem vorgebbaren Sollwert durchgeführt wird, wobei im Falle eines erkannten Fehlers die Testsequenz mittels eines Zustandsmodells automatisiert geändert wird, wobei das Zustandsmodell die Soll-Spezifikation des elektronischen Bauelements enthält und schließlich ein erneutes Testen des elektronischen Bauelements mit der geänderten Testsequenz erfolgt. Weiterhin betrifft die Erfindung ein Computerprogrammprodukt, welches dieses Verfahren bereitzustellen vermag, wenn dieses auf einem Computer ausgeführt wird. Eine weitere Ausführungsform der Erfindung betrifft eine Testvorrichtung, mit welcher das Verfahren ausgeführt werden kann.