Integrierter Schaltkreis mit einer Speicherzellenanordnung und Verfahren zum Lesen eines Speicherzellenzustands unter Verwendung einer Mehrzahl von Teil-Leseoperationen
Ausführungsbeispiele der Erfindung betreffen im Allgemeinen einen integrierten Schaltkreis mit einer Speicherzellenanordung und ein Verfahren zum Lesen eines Speicherzellenzustands unter Verwendung einer Mehrzahl von Teil-Leseoperationen. In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung wird ein integrier...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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