Integrierter Schaltkreis mit einer Speicherzellenanordnung und Verfahren zum Lesen eines Speicherzellenzustands unter Verwendung einer Mehrzahl von Teil-Leseoperationen

Ausführungsbeispiele der Erfindung betreffen im Allgemeinen einen integrierten Schaltkreis mit einer Speicherzellenanordung und ein Verfahren zum Lesen eines Speicherzellenzustands unter Verwendung einer Mehrzahl von Teil-Leseoperationen. In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung wird ein integrier...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: RAVASIO, ROBERTO, RICHTER, DETLEV, KOEBERNIK, GERT, GALLO, GIROLAMO, VEREDAS, RAMIREZ XAVIER, REISSMANN, MIRKO
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
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