Spektrales Messsystem

Ein spektrales Messsystem zur Ermittlung von Substanzeigenschaften unter Verwendung von Terahertz-Strahlung umfasst: eine Strahlungsquelle (410), die dazu ausgebildet ist, Strahlungen (S401) mit wenigstens zwei vorbestimmten, voneinander verschiedenen Wellenlängen auszusendenden, gekennzeichnet durc...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	LUBKOLL, DIETER, BOEGLI, URS F, BACHMANN, PHILIPP
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	COLORIMETRY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Ein spektrales Messsystem zur Ermittlung von Substanzeigenschaften unter Verwendung von Terahertz-Strahlung umfasst: eine Strahlungsquelle (410), die dazu ausgebildet ist, Strahlungen (S401) mit wenigstens zwei vorbestimmten, voneinander verschiedenen Wellenlängen auszusendenden, gekennzeichnet durch einen Sensor (490), der auf eine weitere Strahlu401) der Strahlungsquelle (410) basiert; eine Steuerungseinheit (440), die mit der Strahlungsquelle (410) und dem Sensor (490) verbunden ist; wobei die Steuerungseinheit (440) dazu ausgebildet ist, die Strahlungsquelle (410) anzusteuern und den Sensor (490) auszulesen.