Abtasteinheit einer optischen Positionsmesseinrichtung und Positionsmesseinrichtung mit dieser Abtasteinheit

Bei einer optischen Positionsmesseinrichtung ist die Detektoranordnung (6) gegenüber elektromagnetischen Störfeldern abgeschirmt. Zur Abschirmung dient eine transparente elektrisch leitende Beschichtung (16) einer Abdeckplatte (15). Die Abdeckplatte (15) deckt eine Ausnehmung (21) eines Grundkörpers...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	SCHNEIDER, GISELHER
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS CONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILSOF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR INSTRUMENT DETAILS MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Bei einer optischen Positionsmesseinrichtung ist die Detektoranordnung (6) gegenüber elektromagnetischen Störfeldern abgeschirmt. Zur Abschirmung dient eine transparente elektrisch leitende Beschichtung (16) einer Abdeckplatte (15). Die Abdeckplatte (15) deckt eine Ausnehmung (21) eines Grundkörpers (20) ab, in dem ein transparenter Träger (5) mit der Detektoranordnung (6) untergebracht ist. Die Detektoranordnung (6) ist auf der Unterseite des Trägers (5) angeordnet und dieser Träger (5) wiederum mit seiner Oberseite an der Abdeckplatte (15) befestigt.