Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise

Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise

In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspan...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: TAEUBER, ANDREAS, PETTER, ROBERT, RICHTER, DETLEV, AMBROGGI, LUCA DE, SEIDEL, KONRAD, ZIEGELMAYER, MARCO
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
INFORMATION STORAGE
PHYSICS
STATIC STORES
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator TAEUBER, ANDREAS
PETTER, ROBERT
RICHTER, DETLEV
AMBROGGI, LUCA DE
SEIDEL, KONRAD
ZIEGELMAYER, MARCO
description In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspannung-Identifikators von einem zuvor gespeicherten Satz von Wortleitungsspannung-Identifikatoren, wobei jeder Wortleitungsspannung-Identifikator des zuvor gespeicherten Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren mindestens einer Speicherzelle der Speicherzellen in dem Speicherzellenfeld zugeordnunter Verwendung einer Wortleitungsspannung, welche abhängig ist von dem ausgewählten Wortleitungsspannung-Identifikator.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE102007019789A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE102007019789A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE102007019789A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqtULFOw0AMbQeGqvAPXtiolMBQOqKSqogxCCSW6pS-S069ONGdjyHfxEfiAkMrMYDK5Gf7-T3bk_H7M4I1TQDTkFp6TXWAs5qZZAmOQWUPVzUIA7wHOf6stgoEdXAIouSyaoyXnY7GKzpWLELrROC_5iKVRgYNbx3TSxfEw0niOsbeMCuYPWzB4qzbGen2Gn82fPQmRhUYlKqlvdHRCXzqDeHHxf_pfZR4e9g87OF8dGaNj7j4jtPR5ap4Wq5n6LsNdJMKDNncF3l2nWXzLF_Mbxd3-c1veR8rCL6B</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise</title><source>esp@cenet</source><creator>TAEUBER, ANDREAS ; PETTER, ROBERT ; RICHTER, DETLEV ; AMBROGGI, LUCA DE ; SEIDEL, KONRAD ; ZIEGELMAYER, MARCO</creator><creatorcontrib>TAEUBER, ANDREAS ; PETTER, ROBERT ; RICHTER, DETLEV ; AMBROGGI, LUCA DE ; SEIDEL, KONRAD ; ZIEGELMAYER, MARCO</creatorcontrib><description>In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspannung-Identifikators von einem zuvor gespeicherten Satz von Wortleitungsspannung-Identifikatoren, wobei jeder Wortleitungsspannung-Identifikator des zuvor gespeicherten Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren mindestens einer Speicherzelle der Speicherzellen in dem Speicherzellenfeld zugeordnunter Verwendung einer Wortleitungsspannung, welche abhängig ist von dem ausgewählten Wortleitungsspannung-Identifikator.</description><language>ger</language><subject>INFORMATION STORAGE ; PHYSICS ; STATIC STORES</subject><creationdate>2008</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20081016&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102007019789A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20081016&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102007019789A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TAEUBER, ANDREAS</creatorcontrib><creatorcontrib>PETTER, ROBERT</creatorcontrib><creatorcontrib>RICHTER, DETLEV</creatorcontrib><creatorcontrib>AMBROGGI, LUCA DE</creatorcontrib><creatorcontrib>SEIDEL, KONRAD</creatorcontrib><creatorcontrib>ZIEGELMAYER, MARCO</creatorcontrib><title>Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise</title><description>In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspannung-Identifikators von einem zuvor gespeicherten Satz von Wortleitungsspannung-Identifikatoren, wobei jeder Wortleitungsspannung-Identifikator des zuvor gespeicherten Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren mindestens einer Speicherzelle der Speicherzellen in dem Speicherzellenfeld zugeordnunter Verwendung einer Wortleitungsspannung, welche abhängig ist von dem ausgewählten Wortleitungsspannung-Identifikator.</description><subject>INFORMATION STORAGE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>STATIC STORES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2008</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqtULFOw0AMbQeGqvAPXtiolMBQOqKSqogxCCSW6pS-S069ONGdjyHfxEfiAkMrMYDK5Gf7-T3bk_H7M4I1TQDTkFp6TXWAs5qZZAmOQWUPVzUIA7wHOf6stgoEdXAIouSyaoyXnY7GKzpWLELrROC_5iKVRgYNbx3TSxfEw0niOsbeMCuYPWzB4qzbGen2Gn82fPQmRhUYlKqlvdHRCXzqDeHHxf_pfZR4e9g87OF8dGaNj7j4jtPR5ap4Wq5n6LsNdJMKDNncF3l2nWXzLF_Mbxd3-c1veR8rCL6B</recordid><startdate>20081016</startdate><enddate>20081016</enddate><creator>TAEUBER, ANDREAS</creator><creator>PETTER, ROBERT</creator><creator>RICHTER, DETLEV</creator><creator>AMBROGGI, LUCA DE</creator><creator>SEIDEL, KONRAD</creator><creator>ZIEGELMAYER, MARCO</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20081016</creationdate><title>Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise</title><author>TAEUBER, ANDREAS ; PETTER, ROBERT ; RICHTER, DETLEV ; AMBROGGI, LUCA DE ; SEIDEL, KONRAD ; ZIEGELMAYER, MARCO</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102007019789A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2008</creationdate><topic>INFORMATION STORAGE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>STATIC STORES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TAEUBER, ANDREAS</creatorcontrib><creatorcontrib>PETTER, ROBERT</creatorcontrib><creatorcontrib>RICHTER, DETLEV</creatorcontrib><creatorcontrib>AMBROGGI, LUCA DE</creatorcontrib><creatorcontrib>SEIDEL, KONRAD</creatorcontrib><creatorcontrib>ZIEGELMAYER, MARCO</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TAEUBER, ANDREAS</au><au>PETTER, ROBERT</au><au>RICHTER, DETLEV</au><au>AMBROGGI, LUCA DE</au><au>SEIDEL, KONRAD</au><au>ZIEGELMAYER, MARCO</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise</title><date>2008-10-16</date><risdate>2008</risdate><abstract>In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspannung-Identifikators von einem zuvor gespeicherten Satz von Wortleitungsspannung-Identifikatoren, wobei jeder Wortleitungsspannung-Identifikator des zuvor gespeicherten Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren mindestens einer Speicherzelle der Speicherzellen in dem Speicherzellenfeld zugeordnunter Verwendung einer Wortleitungsspannung, welche abhängig ist von dem ausgewählten Wortleitungsspannung-Identifikator.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE102007019789A1
source esp@cenet
subjects INFORMATION STORAGE
PHYSICS
STATIC STORES
title Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T05%3A22%3A22IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=TAEUBER,%20ANDREAS&rft.date=2008-10-16&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE102007019789A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true