Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln eines Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Klassifizieren von Speicherzellen in einem integrierten Schaltkreis, Verfahren zum Ermitteln einer Wortleitungsspannung zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis und integrierte Schaltkreise

In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspan...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	TAEUBER, ANDREAS, PETTER, ROBERT, RICHTER, DETLEV, AMBROGGI, LUCA DE, SEIDEL, KONRAD, ZIEGELMAYER, MARCO
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INFORMATION STORAGE PHYSICS STATIC STORES
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Beschreibung
Zusammenfassung:	In einem Ausführungsbeispiel wird ein Verfahren zum Zugreifen auf eine Speicherzelle in einem integrierten Schaltkreis bereitgestellt, wobei der integrierte Schaltkreis ein Speicherzellenfeld mit einer Mehrzahl von Speicherzellen aufweist. Das Verfahren weist auf ein Auswählen eines Wortleitungsspannung-Identifikators von einem zuvor gespeicherten Satz von Wortleitungsspannung-Identifikatoren, wobei jeder Wortleitungsspannung-Identifikator des zuvor gespeicherten Satzes von Wortleitungsspannung-Identifikatoren mindestens einer Speicherzelle der Speicherzellen in dem Speicherzellenfeld zugeordnunter Verwendung einer Wortleitungsspannung, welche abhängig ist von dem ausgewählten Wortleitungsspannung-Identifikator.