Spectral measurement system for determination of characteristics of e.g. explosives, in airport, has control unit e.g. application-specific integrated circuit, adjusting wavelength of laser, where wavelength lies in terahertz range

The system has two radiation sources e.g. lasers (10, 20) in which the laser (10) is adjustable with respect to its wavelength. The lasers emit radiations (S1, S2) with predetermined wavelengths different from each other. A sensor (90) responds to third radiation (S9), which is based on the radiations. A control unit (40) e.g. application-specific integrated circuit, is connected to the lasers and the sensor. The unit is designed such that it controls the lasers and adjusts the wavelength of the laser (10), and reads the sensor, where the wavelength of the laser (10) lies in terahertz range. Ein spektrales Messsystem zur Ermittlung von Substanzeigenschaften unter Verwendung von Terahertz-Strahlung umfasst: wenigstens zwei Strahlungsquellen (10, 20), von denen wenigstens die erste Strahlungsquelle (10) hinsichtlich ihrer Wellenlänge einstellbar ist, wobei die erste Strahlungsquelle (10) eine erste Strahlung (S1) mit einer vorbestimmten ersten Wellenlänge aussendet und die zweite Strahlungsquelle (20) eine zweite (S2) mit einer vorbestimmten zweiten Wellenlänge aussendet, die von der ersten Wellenlänge verschieden ist; und ist gekennzeichnet durch einen Sensor (90), der auf eine weitere Strahlung (S9) anspricht, welche auf den Strahlungen (S1, S2) der wenigstens zwei Strahlungsquellen (10, 20) basiert; eine Steuerungseinheit (40), die mit den wenigstens zwei Stahlungsquellen (10, 20) und dem Sensor (90) verbunden ist; wobei die Steuerungseinheit (40) dazu ausgebildet ist, die wenigstens zwei Strahlungsquellen (10, 20) anzusteuern und die Wellenlänge der wenigstens einen einstellbaren Strahlungsquelle (10) einzustellen sowie den Sensor (90) auszulesen.