Lichtunterstütztes Testen eines optoelektronischen Moduls

Testvorrichtung zum Detektieren von Defekten aus Silizium und/oder amorphem Silizium in einem optoelektronischen Modul (10), umfassend:a. eine erste Quelle (11) zum Erzeugen eines elektromagnetischen Strahls oder Teilchenstrahls (15);b. eine zweite Quelle (12) zum Beleuchten des optoelektronischen M...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Brunner, Matthias, Mueller, Bernhard Gunter, Schmid, Ralf
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING FREQUENCY-CHANGING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES NON-LINEAR OPTICS OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS OPTICAL LOGIC ELEMENTS OPTICS PHYSICS TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF TESTING TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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