Verfahren zur Ermittlung konfigurations- und zustandsabhängiger Mikroskopparameter

Bei einem Verfahren zur Ermittlung konfigurations- und zustandsabhängiger Mikroskopparameter, die durch mehrere, im Lichtweg eines Mikroskops angeordnete Mikroskopkomponenten beeinflusst werden, besteht die Aufgabe, das Quantifizierungsverfahren für die Mikroskopparameter allgemeingültiger, d. h. für unterschiedlich aufgebaute Mikroskope besser anwendbar zu gestalten. DOLLAR A Nach einer Erstellung einer,von einem zu beobachtenden Objekt ausgehenden bis zum Anfang der Beleuchtungsstrahlengänge und bis zum Ende der Beobachtungsstrahlengänge reichenden mikroskopspezifischen Baumstruktur der Lichtwege werden die Positionen der Mikroskopkomponenten in der Baumstruktur festgestellt und Komponentenvorgänger und Komponentennachfolger einer jeden Mikroskopkomponente festgelegt. Ausgehend von einem Anfangsort in der Baumstruktur wird rekursiv entlang einer Kette von Komponentenvorgängern oder Komponentennachfolgern der Grad der Beeinflussung auf den zu ermittelnden Mikroskopparamter für jede Einfluss ausübende Mikroskopkomponente als Teilbeitrag festgestellt, um die Gesamtbeeinflussung des Mikroskopparameters durch die Mikroskopkomponenten aus den Teilbeträgen ermitteln zu können. In a method for determining configuration-dependent and state-dependent microscope parameters which are influenced by a plurality of microscope components that are arranged in the optical path of a microscope, it is the object of the invention to design the quantification method for the microscope parameters in a universally usable manner, i.e., so as to be applicable in an improved manner for microscopes of different constructions. After preparing a microscope-specific tree structure of the optical paths which proceeds from an object to be observed and extends from the start of the illumination beam paths to the end of the observation beam paths, the positions of the microscope components in the tree structure and components preceding and succeeding each of the microscope components are determined. Proceeding from a starting point in the tree structure, the degree of influence exerted on the microscope parameter to be determined is determined recursively along a chain of preceding components or succeeding components as a partial contribution for each microscope component exerting an influence in order to determine from the partial contributions the total influence exerted on the microscope parameter by the microscope components.