Optische Positionsmesseinrichtung

Optische Positionsmesseinrichtung mit:einem transparenten Maßstab (1) aus elektrisch nicht leitendem Material, der eine optisch abtastbare Messteilung (5) trägt;einer Abtasteinrichtung (2) zur Abtastung der Messteilung (5) mit einer Lichtquelle (6) und Photodetektoren (8);einer transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11) vor den Photodetektoren (8) zur Abschirmung der Photodetektoren (8) vor elektromagnetischen Störfeldern,wobei die transparente elektrisch leitfähige Schicht (11) auf einer Oberfläche des Maßstabs (1) aufgebracht ist, dadurch gekennzeichnet,dass diese Oberfläche des Maßstabs (1) den Photodetektoren (8) zugewandt ist,dass die transparente elektrisch leitfähige Schicht (11) mit einem Bezugspotential verbunden ist,dass der Maßstab (1) an einem den Maßstab (1) umgebenden Gehäuse (12) befestigt ist, welches mit dem Bezugspotential verbunden ist und dass zwischen dem Gehäuse (12) und der transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11) zumindest ein Kontaktelement (13, 17, 18, 20) angeordnet ist, welches eine elektrisch leitende Verbindung zwischen der transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11) und dem Gehäuse (12) herstellt, unddass das Kontaktelement eine Kontaktspur (20) beinhaltet, die parallel zur transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11) in Messrichtung X verlaufend auf dem Maßstab (1) aufgebracht ist und über die Länge der transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11) mit dieser in Kontakt steht, wobei der elektrische Widerstand der Kontaktspur (20) geringer ist als der elektrische Widerstand der transparenten elektrisch leitfähigen Schicht (11). A transparent scale (1) made from electrically non-conductive material carries an optically scannable measuring scale division (5) scanned by a device (2) with a source (6) of light and photodetectors (8). A transparent electrically conductive layer (11) fits in front of photodetectors to shield them from electromagnetic noise fields.