Verfahren zum Erweitern von Limitierungen für Strukturweiten beim Herstellungsprozess von Fotomasken

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KATZWINKEL, FRANK, JAEHNERT, CARMEN, HAFFNER, HENNING, MAREK, PETER, DOEHR, NINA, HAY, BERND
Format: Patent
Sprache:ger
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