Abtasteinrichtung zur Abtastung einer Maßverkörperung

Die Erfindung bezieht sich auf eine Abtasteinrichtung zur Abtastung einer Maßverkörperung, um Relativbewegungen der Abtasteinrichtung bezüglich der Maßverkörperung zu erfassen, mit mehreren Sensorfeldern, wobei ein erstes Sensorfeld zur Erfassung von Relativbewegungen entlang einer ersten Raumrichtu...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BURGSCHAT, REINER, MATZ, MANFRED
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung bezieht sich auf eine Abtasteinrichtung zur Abtastung einer Maßverkörperung, um Relativbewegungen der Abtasteinrichtung bezüglich der Maßverkörperung zu erfassen, mit mehreren Sensorfeldern, wobei ein erstes Sensorfeld zur Erfassung von Relativbewegungen entlang einer ersten Raumrichtung und ein zweites Sensorfeld zur Erfassung von Relativbewegungen entlang einer zweiten, hiervon linear unabhängigen Raumrichtung dient. Erfindungsgemäß ist dem ersten und dem zweiten Sensorfeld (11, 21) jeweils ein zusätzliches erstes bzw. zweites Sensorfeld (12, 22) zugeordnet, das jeweils Relativbewegungen entlang derselben Raumrichtung (x, y) erfasst, wobei diese vier Sensorfelder (11, 12; 21, 22) in einer Ebene punktsymmetrisch bezüglich eines Mittelpunktes (M) angeordnet sind.