Detecting patterns on object surface e.g. in warehouse, involves evaluating acquired images in computer so that 3D and 2D images can be detected with bright and dark field surface illumination respectively

The method involves alternately illuminating (4) the surface of the object (2) with bright field and dark field illumination, acquiring (1) at least one image with bright field illumination and/or with dark field illumination and evaluating the images in a computer (3) using neural network so that 3...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SIMON, ALEXANDER, SCHMALFUSS, HARALD
Format: Patent
Sprache:eng ; ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:The method involves alternately illuminating (4) the surface of the object (2) with bright field and dark field illumination, acquiring (1) at least one image with bright field illumination and/or with dark field illumination and evaluating the images in a computer (3) using neural network so that 3D and 2D images can be detected with the bright and dark field illumination respectively. AN Independent claim is also included for the following: an arrangement for detecting patterns on object surface. Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Erkennung von Mustern auf einer Oberfläche eines Gegenstandes, bei dem mit einer elektronischen Kamera ein Bild der Oberfläche des Gegenstandes bei Hellfeldbeleuchtung und ein Bild der Oberfläche des Gegenstandes bei Dunkelfeldbeleuchtung aufgenommen wird und die Bilder in einer Recheneinrichtung ausgewertet werden, wobei die Recheneinrichtung anhand des Bildes bei Hellfeldbeleuchtung im wesentlichen dreidimensionale Muster und anhand des Bildes bei Dunkelfeldbeleuchtung im wesentlichen zweidimensionale Muster auf der Oberfläche des Gegenstandes erkennt.