Output capacity optimization method for clocked systems e.g. computers, requires increasing the frequency and repeating the testing until passed, followed by varying at least one of the clock drive factors

Optimization method involves monitoring system output capacity, voltage levels and devices and comparing these with threshold parameters. The system clock and/or voltages are incremented and the system retested at each step. If the desired timing parameters and outputs are met, the system has been optimized. Ein Verfahren zum Anpassen des Betriebs- oder zeitlichen Spielraumes eines getakteten Systems, wie etwa eines Digitalrechners oder einer Speichersteuerung, wird dargelegt. Das Verfahren kann automatisiert sein, damit es bei jedem Laden des Initialisierungsprogrammes abläuft, oder es kann manuell an Änderungen bei Frequenz, Betriebsspannungen oder Anwendungen angepasst sein, bei denen der zeitliche Spielraum nicht so kritisch ist. Eine Anfangs- oder Standardfrequenz des Taktgebers wird eingestellt. Einstellungen der Taktsteuerung, wie etwa Tastverhältnis, VCO-Bereich und -Verstärkung usw. werden ebenfalls initialisiert und standardmäßig eingestellt. Prüfungen, wie etwa ABIST, LIDT oder andere Funktionsprüfungen werden an dem getakteten System durchgeführt, und die Taktfrequenz wird schrittweise erhöht, bis die Prüfungen nicht bestanden werden. Wenn die Prüfungen nicht bestanden werden, werden eine oder mehrere Einstellungen der Taktsteuerung angepasst, und die Prüfungen werden bei der nicht bestandenen Frequenz erneut durchgeführt. Wenn die Prüfungen erfolgreich abgeschlossen werden, wobei keine Fehler angezeigt werden, wird die Taktfrequenz wieder erhöht, bis die Prüfung nicht bestanden wird. Wiederum werden die Einstellungen der Taktsteuerung angepasst, und die Prüfungen werden mit steigender Frequenz wiederholt, bis die Prüfungen nicht bestanden werden, oder bis ein gewünschter zeitlicher Spielraum erreicht worden ist.