ANORDNUNG ZUR INDIKATRIXMESSUNG MEHRERER STREULICHTEIGENSCHAFTEN

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SCHUHMANN,UWE,DD, WEISS,MARTIN,DD
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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