METHOD OF DEFECT'S POSITION DETERMINATION IN MATERIAL'S THICKNESS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BIZEK VACLAV CSC.,CS, ZAVADIL ZBYNEK ,CS, KOMANEC JAN ,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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