WAVE LENGTH MEASURING METHOD AND DEVICE FOR APPLICATION OF THIS METHOD

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	POKORNY,MILAN,CS, MARTINCEK,GUSTAV,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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